車(chē)載電子 AEC-Q 認(rèn)證服務(wù)
1994 年，克萊斯勒、福特和通用汽車(chē)三大主機(jī)廠(chǎng)為建立一套通用的零件資質(zhì)及質(zhì)量系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)立了汽車(chē)電子委員會(huì) AEC(Automotive Electronics Council)，符合 AEC 規(guī)范的零部件均可被三家車(chē)廠(chǎng)同時(shí)采用。此舉推動(dòng)了汽車(chē)零部件通用性的實(shí)施，為車(chē)載電子市場(chǎng)的快速增長(zhǎng)奠定基礎(chǔ)。目前AEC會(huì)員遍及全球各大汽車(chē)廠(chǎng)與汽車(chē)電子和半導(dǎo)體廠(chǎng)商，AEC-Q為AEC組織所制訂的車(chē)用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
目前，AEC-Q 標(biāo)準(zhǔn)已被整個(gè)汽車(chē)行業(yè)廣泛認(rèn)可和采用，獲得 AEC-Q 認(rèn)證的企業(yè)將在日益激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中搶占先機(jī)，成功打入各大主機(jī)廠(chǎng)和一級(jí)供應(yīng)商的供應(yīng)鏈。
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測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
AEC-Q100 芯片應(yīng)力測(cè)試（Stress Test）的認(rèn)證規(guī)范
AEC-Q100-001 邦線(xiàn)切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應(yīng)測(cè)試
AEC-Q100-005 可寫(xiě)可擦除的永久性記憶的耐久性數(shù)據(jù)保持及工作壽命的測(cè)試
AEC-Q100-007 故障仿真和測(cè)試等級(jí)
AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）
AEC-Q100-009 電分配的評(píng)估
AEC-Q100-010 錫球剪切測(cè)試
AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試
AEC-Q100-012 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q101 離散組件應(yīng)力測(cè)試（Stress Test）的認(rèn)證規(guī)范
AEC-Q101-001 人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q101-003 邦線(xiàn)切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q101-004 同步性測(cè)試方法
AEC-Q101-005 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試
AEC-Q101-006 12V系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述
AEC-Q102 車(chē)用分立光電半導(dǎo)體元器件可靠性驗(yàn)證測(cè)試
AEC-Q102-001 露水測(cè)試
AEC-Q102-002 電路板柔性測(cè)試
AEC-Q102-003 光電多芯片模塊 （OE-MCM）
AEC-Q103 汽車(chē)傳感器應(yīng)力測(cè)試的認(rèn)證規(guī)范
AEC-Q103-002 微機(jī)電系統(tǒng)壓力傳感器器件應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q103-003 MEMS麥克風(fēng)器件應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q104 車(chē)用多芯片模塊可靠性測(cè)試
AEC-Q200 被動(dòng)組件應(yīng)力測(cè)試（Stress Test））的認(rèn)證規(guī)范（無(wú)源器件）
AEC-Q200-001 阻燃性能測(cè)試
AEC-Q200-002 人體模式靜電放電測(cè)試
AEC-Q200-003 斷裂強(qiáng)度測(cè)試
AEC-Q200-004 自恢復(fù)保險(xiǎn)絲測(cè)量程序
AEC-Q200-005 PCB板彎曲/端子邦線(xiàn)應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q200-006 端子應(yīng)力（貼片元件）/切應(yīng)力測(cè)試
AEC-Q200-007 電壓浪涌測(cè)試
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