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HAST測試-華碧檢測-第三方檢測機構
集成電路芯片、分立器件、晶體管等元器件的耐濕性測試

HAST一般稱為高加速溫濕度應力試驗或是高加速應力試驗。華碧實驗室HAST測試實驗室通過施加嚴酷的溫度、濕度并提高水汽壓力,水汽通過封裝材料或管腳滲透,用來評價元器件在潮濕環境中的可靠性,華碧實驗室擁有專業資質、經驗豐富的技術專家團隊,同時可根據客戶的技術需求,定制推薦合理的測試方案。

服務背景
電子設備主要是由電子元器件組成的,因此電子元器件的可靠性直接影響電子設備可靠性。電子元器件也是屬于比較“脆弱”的一種產品,溫度、濕度、振動、鹽霧等各種環境應力都可能會損傷電子元器件,造成電子設備的故障失效。根據大量失效數據分析,濕氣引起電子元器件的失效比例占20%左右。
HAST( Highly-Accelerated Temperature and Humidity Stress Test): 一般稱為高加速溫濕度應力試驗或是高加速應力試驗。HAST測試通過施加嚴酷的溫度、濕度并提高水汽壓力,水汽通過封裝材料或管腳滲透,用來評價元器件在潮濕環境中的可靠性。
服務內容
一、適用測試標準
GB/T 2423.40/IEC 60068-66系列電工電子產品環境試驗 試驗C:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
JESD22-A110高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118加速防潮-無偏置高加速溫濕度應力試驗
AEC-Q汽車零部件車規級標準
二、適用產品范圍
集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機電元件、傳感器等。
三、常規樣品要求
請聯系我們的業務或客服,以具體標準為準。
四、測試方法
U-HAST:無偏壓高加速溫濕度應力試驗,是測試電鍍和直接化學腐蝕的優選方法.
B-HAST:偏壓高加速溫濕度應力試驗,與溫濕度偏壓試驗(THB)對產品的破壞機理一致,是THB的加速測試,測試時器件必須以*小的功耗運行。
常規測試條件

常規測試條件

溫度(℃)

濕度(%RH)

110

85

120*

85

130

85

*注:120℃/85%RH條件僅標準GB/T 2423.40/IEC 60068-66適用

華碧實驗室解決方案
華碧實驗室提供全面的可靠性測試一站式解決方案,包括。
● 環境測試
● 可靠性測試
● 可靠性設計
● 可靠性測分析
● 產品評估
● 可靠性培訓及咨詢
常見問題
Q1:測試周期需要多久?
正常周期為5-7個工作日(樣品在試驗箱或試驗臺內時間除外)。如需加急,請聯系我們的業務或者客服。
Q2:AEC-Q認證標準中的HAST測試,一般建議的測試條件是什么?
AEC-Q認證標準中,一般建議130℃/85%RH,96h或110℃/85%RH,264h。根據樣品的材質情況也可以進行85℃/85%RH的THB測試。

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