提升中國制造的質(zhì)量水平

俄歇電子能譜分析(AES)
X射線分析 (X-ray)
金相切片分析 (Metallographic)
SEM和EDS分析 (SEM&EDS)
激光共聚焦顯微拉曼光譜分析 (Micro Raman spectroscopy)
X射線衍射分析(XRD)
顯微傅里葉紅外光譜分析 (FTIR)
聲學(xué)掃描分析(C-SAM)
透視電子顯微鏡(TEM)
X射線熒光光譜分析(XRF)
染色分析 (Staining)
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| 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-OES) | X-RAY透視顯微鏡 | 氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀GC-MS |
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