華碧實驗室依托強大的專業技術團隊，建立了業內領先的失效分析案例數據庫，擁有豐富的檢測儀器設備資源。華碧主要利用X-Ray、SAM和HASS對批量電子元器件進行篩選，從中區分出元器件正品和翻修品、正品與仿制品、性能良品和次品，為元器件供應商、銷售商提供真假和性能甄別的依據。
檢測流程
| 開箱拍照 | Unboxing Picture |
| 清點數量 | Counting Quantity |
| VI（外觀檢測） | Visual Inspection |
| 無損檢測 | Nondestructive Testing |
| 表面mark檢測 | Surface Mark Testing |
| Datasheet比對 | Datasheet Comparison |
| 功能測試 | Functional Testing |
| De-cap比對log | De-cap Comparison Log |
| 確認引腳上有無鉛 | Confirmation The Lead on the Electronic Pin |
| MSL檢查核對 | MSL Checking And Verification |
| 可焊性檢測 | Welding Property Testing |
| 環境測試及分析（SEAT） | Environmental Testing And Analysis |
產生的效益
保證元器件的可靠性，選出元器件內部構造品質好、各類焊點焊接質量好、封裝無分層等工藝質量好的元器件
發現并剔除在制造、工藝和材料方面的缺陷和隱患
區分元器件正品和返修品、正品與仿制品、性能良品和次品
暴露使用過程中可能出現的不安全因素，避免造成更大的損失
技術優勢
完備的設備，專業的研究團隊，雄厚的科研基礎積累和支持
為元器件供應商、實驗室及終端客戶提供全供應鏈解決方案
服務能力覆蓋元器件檢驗、點貨、抽樣、代發貨和送貨等環節
提供快速高效的篩選和驗貨服務，應急服務當天完成，正常業務三天完成
服務模式
按檢測項目計費
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